ATE测试系统(集成电路测试) 待解决
收藏- 学科领域:电子信息技术
- 需求类型:技术难题
- 用户姓名:总站
- 所在地:江苏省苏州姑苏区
- 投入预算: 1000
需求详情
索拉科技已在LED测试测量行业深耕多年并积累了一定的研发经验,随着技术的积累和发展,索拉科技已在基础DC应用测试以及源表测试技术达到了国内行业领先的水平,未来将在集成电路自动化测试领域横向拓展。
现寻求半导体或集成电路自动化测试仪开发的相关技术,目标为面向数字、模拟混合信号IC测试系统,可实现对低速MCU、电源管理IC、ADC/DAC以及数字逻辑器件进行测试。使索拉现有技术(DC测试方法与应用、源测量单元技术、高速多路复用器与高速测试回路构成技术)与期望引进的技术相结合,实现集成电路自动化测试功能,详细需求说明如下:
(1)集成电路测试仪基础架构设计;
(2)引脚测试电路开发、应用与系统实现。实现目标为单板32路数字信号,100Mbps,存储深度8MB以上;
(3)板卡示波器选用/开发与测试系统集成、实现,需要能够采集波形,带宽预期50MHz,1G采样率,2K数据存储深度,单板至少两通道并支持同步触发;
(4)板卡信号源选用/开发与测试系统集成、实现,需要能够生成正弦波、方波、三角波、斜波以及任意的用户定义的波形,并支持同步。预期速率50MHz;
(5)现有ATE设备的技术指导、测试方法、测试案例实操等技术服务。
(来源:中科院苏州育成中心、苏州市生产力促进中心)
- 用户留言
暂时还没有用户留言