CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试装置

应用领域：光机电一体化
技术领域：先进制造技术
技术成熟度：已有样品
交易类型：完全转让,许可转让,技术入股
联系人：汇智科技服务平台
联系信息： 010-82648522

成果详情

200nm~2500nm宽波段相对光谱响应度测量辐射光源中心40mm×40mm区域辐照度非均匀性小于1% ●技术参数：中心波长精度优于±1nm 峰值波长精度优于±1nm 光谱带宽测量精度优于±0.5nm 相对光谱响应度测量精度优于±2% 非均匀性标定误差优于±1% 像素不均匀性测量精度优于±1% ●应用领域： CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试

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