受激辐射损耗（Stimulated Emission Depletion，STED）是首先提出的一类重要超分辨成像方法，将物镜聚焦光斑为中空分布的损耗光叠加到高斯分布的激发光上，抑制外围荧光的激发，使荧光的有效发光区域缩小至衍射极限的范围内，通过激光点在样本上的扫描移动，直接得到超分辨图像，无需复杂的图像重建。
成像速度相对较快，能够对活细胞进行成像。
产品成熟度：掌握了损耗光中空光斑生成技术、激发光损耗光精密合束技术、激发光损耗光脉冲时间延迟同步技术等核心关键技术
研制出STED超分辨显微镜样机，采用C#软件开发出了样机控制软件