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高分辨X射线成像平板探测器

高分辨X射线成像平板探测器


  • 应用领域: 装备制造
  • 技术领域: 先进制造技术
  • 技术成熟度: 通过小试
  • 交易类型: 许可转让,技术入股
  • 联系人: 汇智科技服务平台
  • 联系信息: 010-82648522
  • 成果详情
由闪烁屏、纤维光维、CCD芯片、读出电子学和制冷单元五部分组成,与市场现有的非晶硅平板探测器相比,具有抗辐照能力强,探测效率高等优点,拥有自主知识产权。 探测器主要采用闪烁屏+纤维光维+CD耦合拼接技术实现,闪烁屏以CsI闪烁薄膜为主体,反射、吸收以及封装等功能材料为辅助的多层薄膜结构,纤维光维面积为50mmx50mm,采用大面积CCD,配合独立设计的高性能数据采集,处理与分析电路。
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