本发明公开了一种用于X射线光栅相位衬度成像的背景扣除方法，成像系统包括X光机(1)、源光栅(2)、分束光栅(3)、样品室(4)、分析光栅(5)和X射线探测器(6)。本发明利用相位步进法采集到的图像，通过循环移动样品图像和背景图像的顺序，而使各像素的初始相位远离相位跳变区，从而可以使样品产生的相位没有跨过跳变区，进而可以避免相位纠缠现象的发生。同时基于本发明专利的背景扣除方法可以灵活调节相位测量的范围，如调节为(‑π+3，π+3]，而传统方法的相位测量范围是固定在(‑π，π]区间内的，本发明专利因此可以在某些应用情况下获得优势。
