拼接光栅位移偏差监测系统
- 申请号:CN200810203381.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN101419319A
- 公开(公开)日:20090429
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 拼接光栅位移偏差监测系统 | ||
申请号 | CN200810203381.8 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101419319A | 公开(授权)日 | 20090429 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 师树恒;王斌;王勇;朱健强 |
主分类号 | G02B7/00 | IPC主分类号 | |
专利有效期 | 拼接光栅位移偏差监测系统 至拼接光栅位移偏差监测系统 | 法律状态 | |
说明书摘要 |
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
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05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接,价格透明
2、平台验证,实名审核
3、合同监控,代办手续
4、专员跟进,交易保障
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