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轴对称两镜系统中的二次曲面镜面形的修正检测方法

  • 申请号:CN200610026934.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
  • 公开(公开)号:CN1885088A
  • 公开(公开)日:20061227
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 轴对称两镜系统中的二次曲面镜面形的修正检测方法
申请号 CN200610026934.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN1885088A 公开(授权)日 20061227
申请(专利权)人 中国科学院上海技术物理研究所 发明(设计)人 钮新华
主分类号 G02B23/06 IPC主分类号
专利有效期 轴对称两镜系统中的二次曲面镜面形的修正检测方法 至轴对称两镜系统中的二次曲面镜面形的修正检测方法 法律状态
说明书摘要

交易流程

  • 01 选取所需
    专利
  • 02 确认专利
    可交易
  • 03 签订合同
  • 04 上报材料
  • 05 确认变更
    成功
  • 06 支付尾款
  • 07 交付证书

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