表面微结构检测系统及其检测方法
- 申请号：CN96116263.5
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN1064128C
- 公开(公开)日：19970903
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 表面微结构检测系统及其检测方法 | ||
| 申请号 | CN96116263.5 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN1064128C | 公开（授权）日 | 19970903 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 丁志华;王桂英;王之江;干福熹 |
| 主分类号 | G01B11/30 | IPC主分类号 | |
| 专利有效期 | 表面微结构检测系统及其检测方法 至表面微结构检测系统及其检测方法 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | |||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
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05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
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4、专员跟进，交易保障
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