一种干涉测量系统成像畸变标定装置
- 申请号：CN201510962448.6
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号：CN105627914B
- 公开(公开)日：20160601
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 一种干涉测量系统成像畸变标定装置 | ||
| 申请号 | CN201510962448.6 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN105627914B | 公开（授权）日 | 20160601 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 张文龙;苗亮;刘钰;王辉;周烽;郭本银;马冬梅;金春水 |
| 主分类号 | G01B9/02 | IPC主分类号 | |
| 专利有效期 | 一种干涉测量系统成像畸变标定装置 至一种干涉测量系统成像畸变标定装置 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | |||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
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05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障
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