真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置
- 申请号:CN201920310484.8
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN210005374U
- 公开(公开)日:20200131
- 法律状态:
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置 | ||
申请号 | CN201920310484.8 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN210005374U | 公开(授权)日 | 20200131 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 谢友金;高雄;崔凯;刘鹏 |
主分类号 | G01N3/56 | IPC主分类号 | |
专利有效期 | 真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置 至真空条件下空间长寿命导电滑环摩擦副性能测试装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 |
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接,价格透明
2、平台验证,实名审核
3、合同监控,代办手续
4、专员跟进,交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言