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用于面对等离子体部件的电子反射率测试平台及测试方法

  • 申请号:CN201810025140.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院合肥物质科学研究院
  • 公开(公开)号:CN108226197A
  • 公开(公开)日:20180629
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 用于面对等离子体部件的电子反射率测试平台及测试方法
申请号 CN201810025140.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN108226197A 公开(授权)日 20180629
申请(专利权)人 中国科学院合肥物质科学研究院 发明(设计)人 訾鹏飞;曹磊;周自波;许铁军;李磊;韩乐;刘严伟;姚达毛
主分类号 G01N23/20 IPC主分类号
专利有效期 用于面对等离子体部件的电子反射率测试平台及测试方法 至用于面对等离子体部件的电子反射率测试平台及测试方法 法律状态
说明书摘要

交易流程

  • 01 选取所需
    专利
  • 02 确认专利
    可交易
  • 03 签订合同
  • 04 上报材料
  • 05 确认变更
    成功
  • 06 支付尾款
  • 07 交付证书

平台保障

1、源头对接,价格透明

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3、合同监控,代办手续

4、专员跟进,交易保障

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