专利详情

专利名称	一种微波黑体发射率测量装置及测量方法
申请号	CN201810763057.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108981922A	公开（授权）日	2018.12.11
申请（专利权）人	中国科学院国家空间科学中心	发明（设计）人	李彬;金铭;王晓峰
主分类号	G01J5/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01J5/00(2006.01)I
专利有效期	一种微波黑体发射率测量装置及测量方法至一种微波黑体发射率测量装置及测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提出一种微波黑体发射率测量装置，所述装置包括转台底座、发射机、接收机、和闭环控制系统，该装置还包括回转平台、发射机支架、黑体升降机构、接收机支架、参考定标体和发射率测量模块；回转平台设置在转台底座上；回转平台的侧面与发射机支架的底部连接；其台面上方中心位置设置黑体升降机构；回转平台带动发射机支架和黑体升降机构同时同轴旋转；黑体升降机构用于调整参考定标体和微波黑体的高度，使参考定标体和微波黑体的中心分别与接收机支架的回转轴共面；在所述闭环控制系统的控制下接收机支架带动接收机的接收天线进行俯仰方向的旋转扫描获取散射数据；发射率测量模块根据扫描得到的散射数据计算得到微波黑体的发射率。