专利详情

专利名称	一种同步辐射的衍射增强成像方法
申请号	CN201810425620.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108645879A	公开（授权）日	2018.10.12
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	刁千顺;洪振;张小威;袁清习;盛伟繁;胡凌飞;石泓;郑黎荣;姜永诚;刘旭
主分类号	G01N23/20(2018.01)I	IPC主分类号	G01N23/20(2018.01)I
专利有效期	一种同步辐射的衍射增强成像方法至一种同步辐射的衍射增强成像方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种同步辐射的衍射增强成像方法。本方法为：选取两块斜切晶体，一块作为单色器、一块作为分析器；将X射线掠入射到单色器表面上产生的衍射光束入射到待测样品；然后将该单色器绕晶格面法线方向旋转，根据测量光斑尺寸推测斜切因子b值，当其与理论值相当时固定该单色器的旋转角度φ；将X射线透过样品后的光线入射到分析器表面上；然后将分析器绕其晶格面法线旋转角度φ；以衍射面的法线为轴旋转分析器，利用光强探测器检测出射光强度随着角度的变化曲线，记录下该分析器在该变化曲线的峰位、半峰位和峰底对应的角度位置；将该分析器分别调整到步骤4)记录的角度位置上，利用成像探测器分别接收该分析器出射的信号。