专利详情

专利名称	基于双周期阶梯相位反射镜的红外偏振干涉成像光谱仪
申请号	CN201711380877.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108168704A	公开（授权）日	2018.06.15
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	梁中翥;梁静秋;吕金光;陶金;孟德佳;王维彪;秦余欣
主分类号	G01J3/453(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/453(2006.01)I;G01J3/447(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;G02B27/28(2006.01)I
专利有效期	基于双周期阶梯相位反射镜的红外偏振干涉成像光谱仪至基于双周期阶梯相位反射镜的红外偏振干涉成像光谱仪	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	基于双周期阶梯相位反射镜的红外偏振干涉成像光谱仪,涉及红外偏振成像光谱测量仪器技术领域，解决现有目标场景中偏振信息、图像信息和光谱信息的同时获取以及偏振成像光谱仪器的微小型化与集成化问题，包括准直镜、四通道偏振器、四通道成像镜、分束器、平面反射镜、双周期阶梯相位反射镜、中继成像镜和面阵探测器，本发明通过四通道偏振器、四通道成像镜与双周期阶梯相位反射镜之间的光场耦合实现对像场偏振与干涉的调制，从而获取目标场景的四通道偏振干涉图像，通过一次扫描即可获取目标场景的偏振、图像和光谱信息，具有微小型、轻量化、结构简单、集成度高、测量速度快、信息量多等优点。 1