基于阵列相位反射镜快照成像光谱仪及制作方法
- 申请号:CN201711380870.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN108151880A
- 公开(公开)日:2018.06.12
- 法律状态:实质审查的生效
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 基于阵列相位反射镜快照成像光谱仪及制作方法 | ||
申请号 | CN201711380870.6 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN108151880A | 公开(授权)日 | 2018.06.12 |
申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 王维彪;梁中翥;梁静秋;吕金光;秦余欣;陶金;孟德佳 |
主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I |
专利有效期 | 基于阵列相位反射镜快照成像光谱仪及制作方法 至基于阵列相位反射镜快照成像光谱仪及制作方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 基于阵列相位反射镜快照成像光谱仪及制作方法,涉及红外光谱探测与红外光谱分析技术领域,解决现有传统时间调制傅里叶变换红外光谱仪由于采用高精度的动镜驱动机构带来的体积大、重量沉等问题,同时存在空间调制傅里叶变换红外光谱仪由于采用制冷型红外面阵探测器带来的价格昂贵等问题,由光源、准直镜、分束器、平面反射镜、阵列相位反射镜、光开关阵列、聚焦镜和点探测器组成。本发明利用阵列相位反射镜对入射光场进行分布式相位调制,并利用光开关阵列对出射的干涉光场阵列进行振幅调制以实现分步式选通和探测的光谱仪器。本发明可以使用点探测器进行探测,不仅进一步减小体积和重量,而且大大降低了成本。 |
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接,价格透明
2、平台验证,实名审核
3、合同监控,代办手续
4、专员跟进,交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言