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一种显微追踪微粒三维位移的装置

  • 申请号:CN201711431001.1
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学技术大学
  • 公开(公开)号:CN108020163A
  • 公开(公开)日:2018.05.11
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种显微追踪微粒三维位移的装置
申请号 CN201711431001.1 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN108020163A 公开(授权)日 2018.05.11
申请(专利权)人 中国科学技术大学 发明(设计)人 李静;何威
主分类号 G01B11/04(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/04(2006.01)I
专利有效期 一种显微追踪微粒三维位移的装置 至一种显微追踪微粒三维位移的装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种显微追踪微粒三维位移的装置中,本发明技术方案中,两路对称布置的LED光经准直聚焦单元后透过样品池进入显微物镜入瞳,从显微物镜出来的光经反射单元输入到分光单元,被分光单元中的第一透镜会聚后,两路LED光被两块楔形镜分开,通过分光单元中的第二透镜成像到同一图像控制器。由此,图像控制器获取了样品池中目标微粒的双LED光投影,经图像处理得到其三维位移信息。从准直聚焦单元到图像控制器,各单元分别以显微物镜光轴和分光单元光轴为基准定位衔接,整个装置呈L字状布置,具有光路简单,装置结构紧凑以及体积小,测量准确性好的优点。

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