一种显微追踪微粒三维位移的装置
- 申请号:CN201711431001.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学技术大学
- 公开(公开)号:CN108020163A
- 公开(公开)日:2018.05.11
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种显微追踪微粒三维位移的装置 | ||
申请号 | CN201711431001.1 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN108020163A | 公开(授权)日 | 2018.05.11 |
申请(专利权)人 | 中国科学技术大学 | 发明(设计)人 | 李静;何威 |
主分类号 | G01B11/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/04(2006.01)I |
专利有效期 | 一种显微追踪微粒三维位移的装置 至一种显微追踪微粒三维位移的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种显微追踪微粒三维位移的装置中,本发明技术方案中,两路对称布置的LED光经准直聚焦单元后透过样品池进入显微物镜入瞳,从显微物镜出来的光经反射单元输入到分光单元,被分光单元中的第一透镜会聚后,两路LED光被两块楔形镜分开,通过分光单元中的第二透镜成像到同一图像控制器。由此,图像控制器获取了样品池中目标微粒的双LED光投影,经图像处理得到其三维位移信息。从准直聚焦单元到图像控制器,各单元分别以显微物镜光轴和分光单元光轴为基准定位衔接,整个装置呈L字状布置,具有光路简单,装置结构紧凑以及体积小,测量准确性好的优点。 |
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