专利详情

专利名称	一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法
申请号	CN201710864804.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107807364A	公开（授权）日	2018.03.16
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学	发明（设计）人	苏秀琴;汪书潮;李哲;郝伟;陈松懋;朱文华;夏爱利;张占鹏
主分类号	G01S17/89(2006.01)I	IPC主分类号	G01S17/89(2006.01)I
专利有效期	一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法至一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法，该系统包括总控制器、信号发生器、脉冲激光器、发射光学系统、接收光学系统、Gm?APD阵列探测器、TCSPC时间相关光子计数器、信号处理单元、高压模块、温度传感器以及过载保护模块。本发明动态偏压控制方法是：设置初始偏压值V0、TCSPC时间相关光子计数器绘制直方图；信号处理单元解算直方图，获取当前偏压值V1；过载保护模块对实际偏压值V1进行监控，当实际偏压值V1小于探测器击穿电压，则将实际偏压值V1加载到Gm?APD阵列探测器，当实际偏压值V1小于探测器击穿电压，过载保护模块发出报警信号，停止工作。本发明能够动态控制Gm?APD阵列探测器进行探测工作，实现不同强度回波光信号自适应调节。