
基于凸包结构中心查询点排序的显著目标检测方法
- 申请号:CN201710866766.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学
- 公开(公开)号:CN107610136A
- 公开(公开)日:2018.01.19
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 基于凸包结构中心查询点排序的显著目标检测方法 | ||
申请号 | CN201710866766.1 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN107610136A | 公开(授权)日 | 2018.01.19 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学 | 发明(设计)人 | 曹剑中;王亚楠;王华伟;黄会敏 |
主分类号 | G06T7/11(2017.01)I | IPC主分类号 | G06T7/11(2017.01)I;G06T7/194(2017.01)I;G06T7/90(2017.01)I;G06K9/38(2006.01)I |
专利有效期 | 基于凸包结构中心查询点排序的显著目标检测方法 至基于凸包结构中心查询点排序的显著目标检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明属于计算机图像识别领域,具体涉及一种基于凸包结构中心查询点排序的显著目标检测方法,包括步骤:1)构造目标区域的凸包结构,求出凸包中心;2)对图像进行超像素分割,以超像素作为节点构建闭环图模型并计算最优相似度矩阵;3)以凸包中心所在超像素及其邻接超像素为标签过的查询点,构建标签向量,进行流形排序得到前景显著图;4)以距离凸包中心最近的两条边构建标签向量,流形排序得到背景显著图;5)将前景显著图和背景显著图二值化,交集处理后得到种子节点集合,进行流形排序得到最终显著图。本发明实现的是一种自底向上的显著目标检测方法,采用凸包结构进行中心先验,能够准确地找出显著目标的位置,获得准确的前景特征。 |
交易流程
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