基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量系统
- 申请号:CN201710735440.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN107607045A
- 公开(公开)日:2018.01.19
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量系统 | ||
申请号 | CN201710735440.5 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN107607045A | 公开(授权)日 | 2018.01.19 |
申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 李文昊;吕强;巴音贺希格;宋莹;刘兆武;王玮 |
主分类号 | G01B11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/02(2006.01)I |
专利有效期 | 基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量系统 至基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量系统,包括双频激光器(1)、读数头(2)、测量光栅(3)、接收器(4)和(5)、信号处理系统(6),双频激光器(1)发出的激光入射到读数头(2)中,经过读数头(2)中的光学元件,入射激光会形成两组测量光束,每组测量光束以满足光栅方程的利特罗角入射到测量光栅(3)上,当测量光栅(3)沿光栅矢量方向运动时,携带测量信息的衍射光会按原路返回,经过读数头(2)中的光学元件形成两路测量信号,分别被接收器(4)和接收器(5)接收,并进入信号处理系统。本发明是一种不需要多个读数头排列结构紧凑,体积小,对环境敏感性低,可以降低环境控制成本,提升系统性能。 |
交易流程
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