一种二维材料正入射菲涅尔光学表征方法
- 申请号：CN201810437661.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号：CN108646321A
- 公开(公开)日：2018.10.12
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种二维材料正入射菲涅尔光学表征方法 | ||
| 申请号 | CN201810437661.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN108646321A | 公开（授权）日 | 2018.10.12 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王孝东;陈波 |
| 主分类号 | G02B1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B1/00(2006.01)I;G02B27/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种二维材料正入射菲涅尔光学表征方法 至一种二维材料正入射菲涅尔光学表征方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供的二维材料正入射菲涅尔光学表征方法，采用传统的光学薄膜基本理论?传导矩阵方法，引入光学导纳概念，推导无支撑和有基底二维材料在正入射条件下吸收、反射率、透过率的简单计算公式，推导过程简单，有利于二维材料在光电领域的应用。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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