用于晶硅异质结太阳电池的复合导电减反膜及其制备方法
- 申请号:CN201711455501.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院电工研究所
- 公开(公开)号:CN108183137A
- 公开(公开)日:2018.06.19
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 用于晶硅异质结太阳电池的复合导电减反膜及其制备方法 | ||
申请号 | CN201711455501.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN108183137A | 公开(授权)日 | 2018.06.19 |
申请(专利权)人 | 中国科学院电工研究所 | 发明(设计)人 | 王光红;王文静;赵雷;刁宏伟 |
主分类号 | H01L31/0216(2014.01)I | IPC主分类号 | H01L31/0216(2014.01)I;H01L31/18(2006.01)I |
专利有效期 | 用于晶硅异质结太阳电池的复合导电减反膜及其制备方法 至用于晶硅异质结太阳电池的复合导电减反膜及其制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种用于晶硅异质结太阳电池的复合导电减反膜,由一层折射率为1.8~2.1的常规氢铪共掺氧化铟薄膜及一层折射率为1.4~1.6的纳米柱氢铪共掺氧化铟薄膜组成。常规氢铪共掺氧化铟薄膜沉积在太阳电池迎光面的掺杂层上,纳米柱氢铪共掺氧化铟薄膜沉积在常规氢铪共掺氧化铟薄膜上。采用的速率射频磁控溅射沉积常规氢铪共掺氧化铟薄膜,基片与溅射靶材表面平行,薄膜厚度70~90nm。采用的速率射频磁控溅射沉积纳米柱氢铪共掺氧化铟薄膜,基片与溅射靶材表面成一定角度,薄膜厚度10~30nm。典型的未经热处理的复合导电减反膜电阻率4.3×10?4Ωcm,载流子浓度3.9×1020cm?3,迁移率56.5cm2V?1s?1,在500?1100nm波长范围内的加权平均反射率3.53%。本发明制备的复合薄膜起到电池导电电极及减少光反射的作用。 |
交易流程
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