专利详情

专利名称	一种低温辐射计用激光光束定位及控制系统
申请号	CN201711172669.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108106722A	公开（授权）日	2018.06.01
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	夏志伟;方伟;王玉鹏
主分类号	G01J1/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01J1/02(2006.01)I;G01J1/08(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I
专利有效期	一种低温辐射计用激光光束定位及控制系统至一种低温辐射计用激光光束定位及控制系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种低温辐射计用激光光束定位及控制系统，激光光束依次经过所述第一直角棱镜、第二直角棱镜、平面反射镜通孔、真空窗口和视场光阑进入所述低温辐射计接收腔内；所述平面反射镜倾斜设置，所述激光光束的散射光经视场光阑反射，经平面反射镜反射至离轴抛物面镜，再由离轴抛物面镜聚焦并成像于CMOS探测器上；所述控制模块接收CMOS探测器反馈的信息，并控制二维平移台的移动。本发明提供的低温辐射计用激光光束定位及控制系统，能够自动纠正激光光束的偏离误差，确保了激光光束的精确入射，实现了激光功率完全入射到低温辐射计接收腔内。不仅有助于降低功率测量的不确定度、提高功率测量准确性，同时也提高了辐射定标的精度。