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一种基于红外掩星传感器校正切高值的方法

  • 申请号:CN201710754530.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院遥感与数字地球研究所
  • 公开(公开)号:CN107543562A
  • 公开(公开)日:2018.01.05
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种基于红外掩星传感器校正切高值的方法
申请号 CN201710754530.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN107543562A 公开(授权)日 2018.01.05
申请(专利权)人 中国科学院遥感与数字地球研究所 发明(设计)人 李小英;朱松岩;邹铭敏;王红梅;王雅鹏;苗晶
主分类号 G01D3/028(2006.01)I IPC主分类号 G01D3/028(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I
专利有效期 一种基于红外掩星传感器校正切高值的方法 至一种基于红外掩星传感器校正切高值的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种红外掩星传感器切高校正方法。包括:通过红外掩星传感器获取一级数据,所述一级数据包括多个切高和大气成份;对所述一级数据进行波数处理,去除所述多个切高中的异常切高值;以及在波数范围内对所述大气成份中的多种气体进行敏感性分析;通过所述敏感性分析,在所述波数范围基础上排除所述大气成份中对波数有影响的气体后,采用对数梯度三角法对所述一级数据中的切高进行校正。本申请提供的快速切高校正方法更简便、快速、准确的基于掩星传感器特征的切高校正。

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