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基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量方法

  • 申请号:CN201710734786.3
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 公开(公开)号:CN107462166A
  • 公开(公开)日:2017.12.12
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量方法
申请号 CN201710734786.3 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN107462166A 公开(授权)日 2017.12.12
申请(专利权)人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明(设计)人 李文昊;吕强;巴音贺希格;宋莹;刘兆武;王玮
主分类号 G01B11/02(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/02(2006.01)I
专利有效期 基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量方法 至基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种基于衍射光栅的长行程、高精度位移测量方法,双频激光器发出的激光入射到读数头中,经过读数头中的光学元件,入射激光会形成两组测量光束,每组测量光束以满足光栅方程的利特罗角入射到测量光栅上,测量光栅由多块光栅沿光栅矢量方向拼接而成。当测量光栅沿光栅矢量方向运动时,携带测量信息的衍射光按原路返回,经过读数头中的光学元件形成两路测量信号,分别被两个接收器接收,并进入信号处理系统。在测量过程中,随着光栅的运动,两个接收器至少一个可以接收到测量信号,从而实现了长行程的位移测量。本发明不需要多个读数头便可完成长行程位移测量,结构紧凑,体积小,对环境敏感性低,可以降低环境控制成本,提升测量性能。

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