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高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置

  • 申请号:CN201710442353.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院力学研究所
  • 公开(公开)号:CN107356178A
  • 公开(公开)日:2017.11.17
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置
申请号 CN201710442353.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN107356178A 公开(授权)日 2017.11.17
申请(专利权)人 中国科学院力学研究所 发明(设计)人 苑朝凯;姜宗林;陈宏;俞鸿儒
主分类号 G01B5/06(2006.01)I IPC主分类号 G01B5/06(2006.01)I
专利有效期 高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置 至高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供了高超声速溢流液膜冷却膜厚测量探头的标定装置,包括:基座;测量架,安装在所述基座上,为U形且开口朝向水平方向;水槽,水平安装在所述测量架的下支座上,带有容纳液体的凹槽,在底部设置有安装测量探头的通孔;螺旋测微杆,安装在所述测量架的上支座上且与所述水槽垂直;调节块,安装在所述螺旋测微杆靠近所述水槽的一端且与所述水槽平行。本发明可以通过调节块实现任意液膜厚度调节,满足不同标定实验要求,通过螺旋测微杆可以对调节块实现细微调节,提高调节的液膜厚度精度,解决了测量探头输出特性不确定的问题。

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