专利详情

专利名称	电读出非制冷红外探测器的测试电路与方法
申请号	CN201810324887.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108844639A	公开（授权）日	2018.11.20
申请（专利权）人	昆山光微电子有限公司;中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	刘超;候影;刘瑞文;傅剑宇;王玮冰;陈大鹏
主分类号	G01J5/20(2006.01)I	IPC主分类号	G01J5/20(2006.01)I;G01J5/24(2006.01)I;G01N25/18(2006.01)I;G01N25/20(2006.01)I
专利有效期	电读出非制冷红外探测器的测试电路与方法至电读出非制冷红外探测器的测试电路与方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种电读出非制冷红外探测器的测试电路与方法，测试电路包括：待测样品、固定电阻、可变电阻、电压源、电压放大模块、电压表和电压示波器。其中以待测样品作为测量臂、两个固定电阻作为比例臂、可变电阻作为比较臂，构成惠斯通电桥；电桥由电压源供电，电压表并联在与测量臂串联的比例臂上，输出端电压经电压放大模块放大后由电压示波器显示。本发明的测试电路与方法可以测量获得电读出非制冷红外探测器的响应时间、热导和热容，具有电路简单、操作简便，功能多样、测量精度高的特点。