专利详情

专利名称	一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置
申请号	CN201711012113.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107941660A	公开（授权）日	2018.04.20
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	杨东旭;王明
主分类号	G01N15/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01N15/00(2006.01)I;G01N15/06(2006.01)I
专利有效期	一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置至一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置，利用两种相对独立的磁颗粒检测方法，以磁导率为隐变量建立感应线圈电压和感应线圈电感之间的联系，实现感应线圈电感理论值和测量值之间的误差提取，并由此得到感应电压误差和共振频率误差。本发明误差提取装置中，信号运算模块(8)的输入端连接磁颗粒检测系统的感应线圈，测量感应线圈的电压，计算感应线圈电感理论值。信号运算模块(8)的输出端连接误差提取模块(10)的输入端。扫频测量模块(9)的输入端连接磁颗粒检测系统的感应线圈，测量感应线圈的电感值，扫频测量模块(9)的输出端连接误差提取模块(10)的输入端。误差提取模块(10)计算感应线圈电感误差、电压误差和共振频率误差。