
一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计
- 申请号:CN201711281785.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院合肥物质科学研究院
- 公开(公开)号:CN107830928A
- 公开(公开)日:2018.03.23
- 法律状态:实质审查的生效
- 出售价格: 面议 立即咨询
专利详情
专利名称 | 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 | ||
申请号 | CN201711281785.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN107830928A | 公开(授权)日 | 2018.03.23 |
申请(专利权)人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明(设计)人 | 徐青山;杨东;李建玉;徐文清;詹杰;魏合理 |
主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/42(2006.01)I;G01N21/53(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;G05D3/12(2006.01)I |
专利有效期 | 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 至一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计,上位工控机下发测量命令,在确定初始位置后,启动视日轨迹跟踪命令,程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数,发送给下位机嵌入式控制系统,下位机嵌入式控制电机驱动系统实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后,太阳的影像出现在CCD探测器视场内,启动CCD图像精跟踪,太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器的靶面中心处,对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机,上位工控机程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳。本发明采用了图像跟踪技术替代了四象限跟踪,实现全天候下的跟踪,实现大视场的跟踪。 |
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接,价格透明
2、平台验证,实名审核
3、合同监控,代办手续
4、专员跟进,交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言