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一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计

  • 申请号:CN201711281785.4
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院合肥物质科学研究院
  • 公开(公开)号:CN107830928A
  • 公开(公开)日:2018.03.23
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计
申请号 CN201711281785.4 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN107830928A 公开(授权)日 2018.03.23
申请(专利权)人 中国科学院合肥物质科学研究院 发明(设计)人 徐青山;杨东;李建玉;徐文清;詹杰;魏合理
主分类号 G01J1/42(2006.01)I IPC主分类号 G01J1/42(2006.01)I;G01N21/53(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;G05D3/12(2006.01)I
专利有效期 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 至一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计,上位工控机下发测量命令,在确定初始位置后,启动视日轨迹跟踪命令,程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数,发送给下位机嵌入式控制系统,下位机嵌入式控制电机驱动系统实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后,太阳的影像出现在CCD探测器视场内,启动CCD图像精跟踪,太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器的靶面中心处,对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机,上位工控机程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳。本发明采用了图像跟踪技术替代了四象限跟踪,实现全天候下的跟踪,实现大视场的跟踪。

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