一种适用于二次离子质谱仪分析的矿石矿物的样品靶的制备方法
- 申请号：CN201710520161.7
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院广州地球化学研究所
- 公开(公开)号：CN107449648A
- 公开(公开)日：2017.12.08
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种适用于二次离子质谱仪分析的矿石矿物的样品靶的制备方法 | ||
| 申请号 | CN201710520161.7 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN107449648A | 公开（授权）日 | 2017.12.08 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院广州地球化学研究所 | 发明（设计）人 | 张万峰;张彦强;夏小平;杨晴;熊伯琴 |
| 主分类号 | G01N1/32(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N1/32(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种适用于二次离子质谱仪分析的矿石矿物的样品靶的制备方法 至一种适用于二次离子质谱仪分析的矿石矿物的样品靶的制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种适用于二次离子质谱仪分析的矿石矿物的样品靶的制备方法，采用合金材料替代了环氧树脂，制靶材料硬度适中，适合打磨和抛光，能有效的解决环氧树脂在高真空环境中“释气”、铟靶对小颗粒单矿物难以压制，难以进行打磨抛光等问题。 | ||
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