专利详情

专利名称	一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法
申请号	CN201711462286.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108180829A	公开（授权）日	2018.06.19
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学;西安中科光电精密工程有限公司	发明（设计）人	朱帆;于芳苏;吴易明;郝冲;林俤;姚震
主分类号	G01B11/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/00(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I
专利有效期	一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法至一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉一种对具有平行线特征的目标空间指向测量方法，解决现有测量方法必须在测量目标上设置合作标志点、测量步骤繁复、测量过程慢、测量仪器复杂、设备昂贵的问题。该方法包括以下步骤：1)在具有平行线特征的目标前架设相机；2)相机对目标进行成像；3)相机所成图像传输给计算机，对目标的平行线轮廓或平行线标志进行图像提取；4)建立坐标系，物空间直线L1和L2所成图像为直线L1′和L2′；5)计算得A1、B1、D1、A2、B2、D2；6)将得到的A1、B1、D1、A2、B2、D2以及镜头焦距值f′代入计算式，得到平行线特征的目标空间指向在相机坐标系OXYZ中的表述。