专利详情

专利名称	激光等离子体电子密度测量装置及测量方法
申请号	CN201711350449.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108174503A	公开（授权）日	2018.06.15
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	陶华;刘诚;朱健强
主分类号	H05H1/00(2006.01)I	IPC主分类号	H05H1/00(2006.01)I
专利有效期	激光等离子体电子密度测量装置及测量方法至激光等离子体电子密度测量装置及测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种激光等离子体电子密度测量装置，包括驱动激光束、第一聚焦镜、激光器、扩束系统、第二聚焦镜、编码板、光斑探测器和计算机。驱动激光束被第一聚焦镜聚焦后与物质相互作用产生等离子体，激光器产生的激光束作为探测光对激光等离子体进行诊断，其通过扩束系统后穿过待测等离子体，待测光经过第二聚焦镜聚焦后照射到编码板上，用光斑探测器记录其所形成的衍射斑。利用这个衍射斑强度和迭代算法重构出待测光的相位分布。测出光经过待测等离子体后的相位变化，光程变化即可确定，用阿贝尔变换处理光程差的数据，从而获得电子密度的分布。本发明无需干涉光路，受环境影响较小，装置结构简单，测量分辨率高，满足于激光等离子体电子密度测量的要求。 1