一种相位测距装置及其测距方法
- 申请号：CN201710035168.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院光电研究院
- 公开(公开)号：CN106772415A
- 公开(公开)日：2017.05.31
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种相位测距装置及其测距方法 | ||
| 申请号 | CN201710035168.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN106772415A | 公开（授权）日 | 2017.05.31 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 高书苑;纪荣祎;周维虎;黎尧;程智;石俊凯 |
| 主分类号 | G01S17/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S17/36(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种相位测距装置及其测距方法 至一种相位测距装置及其测距方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种相位测距装置及其测距方法，包括激光器、光环形器、马赫曾德尔调制器、光纤准直镜、扩束镜、反射镜和探测器，所述激光器发出的光依次经过光环行器、马赫曾德尔调制器、光纤准直镜、扩束镜和反射镜，并经所述反射镜反射后，依次经过扩束镜、光纤准直镜、马赫曾德尔调制器、光环行器和探测器。本发明利用马赫曾德尔调制器对激光器发出的测量光进行线性强度调制，对调制信号进行扫频，并对第二次调制后的信号进行处理求得待测距离，提高了测距精度。 | ||
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