专利详情

专利名称	具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法
申请号	CN201711292776.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108169257A	公开（授权）日	2018.06.15
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	朱佩平;何其利;廖可梁;袁清习;张凯;黄万霞;朱中柱;王研
主分类号	G01N23/04(2018.01)I	IPC主分类号	G01N23/04(2018.01)I
专利有效期	具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法至具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种具有三种定量成像机制的纳米CT三维成像方法，包括以下步骤：首先根据角度信号响应成像机制，在X射线微分相位衬度显微镜像面拍摄样品各转角的谷位放大像、上坡放大像、峰位放大像、下坡放大像，其次根据三种定量成像机制，在X射线微分相位衬度显微镜物面上重建样品各转角的二维吸收衬度像、二维折射衬度像和二维散射衬度像，然后根据逆Radon变换，重建样品的线性吸收系数三维像、线性散射系数三维像、折射率实部衰减率三维像和折射率实部衰减率导数三维像。通过上述方法可以对直径5μm以上的完整细胞进行三维成像，分辨率达到纳米量级。 1