专利详情

专利名称	一种传感器设备低温测试台
申请号	CN201711267545.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107941261A	公开（授权）日	2018.04.20
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	米正辉;沙鹏;贺斐思;翟纪元
主分类号	G01D18/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01D18/00(2006.01)I;G01L25/00(2006.01)I;G01L27/00(2006.01)I
专利有效期	一种传感器设备低温测试台至一种传感器设备低温测试台	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种传感器设备低温测试台，其特征在于，包括恒温器、综合工装台和预加载装置；所述恒温器内设有一液氦池，所述综合工装台位于所述液氦池内；所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元，传动单元位于真空管内，力加载控制单元与传动单元连接，力加载控制单元与真空管密封连接，所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接；所述综合工装台的最外层为真空盒，所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接，所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装，所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。本发明测试成本低、效率高，便于操作，易于实现连续变化温度下低温传感器性能的测量。