专利详情

专利名称	双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法
申请号	CN201711287015.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107830937A	公开（授权）日	2018.03.23
申请（专利权）人	中科院南京天文仪器有限公司	发明（设计）人	林冬冬;李金鹏;胡明勇;毛羽西;朱庆生;毕勇;郑锋华;李季
主分类号	G01J9/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01J9/02(2006.01)I
专利有效期	双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法至双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法，包括分束光栅、第一偏振片、点衍射板PDP、第二偏振片、平面镜、合束光栅、空间移相组件、CCD图像传感器；双光栅偏振点衍射装置采用分束光栅进行分光，以实现后续光路的相干光调制；采用合束光栅形成共光路结构，以实现检测装置的光干涉，相干光经准直物镜入射到空间移相组件中，最后在CCD图像传感器上采集到移相量相差90°的空间移相干涉图，采用移相算法解算待测波前。