专利详情

专利名称	一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法
申请号	CN201610617865.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107664648A	公开（授权）日	2018.02.06
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	朱佩平;张凯;袁清习;黄万霞;朱中柱
主分类号	G01N23/04(2018.01)I	IPC主分类号	G01N23/04(2018.01)I;G01N23/083(2018.01)I
专利有效期	一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法至一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种X射线微分相位衬度显微镜系统及其二维成像方法，所述X射线微分相位衬度显微镜系统包括：用于产生X射线的光源；以及沿X射线传播方向依次设置的聚光镜、中心光阑、分束光栅、针孔、样品台、物镜、环形分析光栅和成像探测器。本发明的有益效果是：该X射线微分相位衬度显微镜系统，仅在传统的X射线显微镜中增加分束光栅和环形分析光栅，就能实现相位衬度定量成像，具有结构简单、易于推广的优点。另外，可以将X射线光源、聚光镜、分束光栅集成为一个X射线环形栅源元件，则整个X射线微分相位衬度显微镜系统长度可以进一步缩短，不仅可以降低X射线显微镜系统的制造成本，而且光的利用效率也能进一步提高。