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基于多路半导体激光器的主动关联成像光学系统

  • 申请号:CN201710527101.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN107450179A
  • 公开(公开)日:2017.12.08
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 基于多路半导体激光器的主动关联成像光学系统
申请号 CN201710527101.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN107450179A 公开(授权)日 2017.12.08
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 李望;韩申生;龚文林;陈明亮;高昕;薄遵望
主分类号 G02B27/00(2006.01)I IPC主分类号 G02B27/00(2006.01)I
专利有效期 基于多路半导体激光器的主动关联成像光学系统 至基于多路半导体激光器的主动关联成像光学系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种基于多路半导体激光器的主动关联成像光学系统,包括多路半导体激光器、发射光学系统、参考光学系统、接收光学系统四个部分。由发射光学系统的共焦镜,将不同子激光器的光束进行聚焦,在位相调制器的作用下,可以在焦面处得到干涉散斑场。参考光学系统将散斑场进行记录。而发射光学系统将散斑场发射到被测物体处。散斑场的光经物体反射之后形成回波信号,回波信号由接收系统进行采集。将回波信息和参考系统记录的散斑场信息进行关联运算,即可反演出物体图像。本发明具有实时调节、频率快、位相调节可重现等特点,能显著提高关联成像的速度;实现单臂预置成像;能根据目标特性设置匹配的散斑形态,能够有效增强成像信噪比。

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