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一种基于光学稀疏子孔径区域内标准正交多项式计算进行重构波前的方法

  • 申请号:CN201710563807.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
  • 公开(公开)号:CN107402074A
  • 公开(公开)日:2017.11.28
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种基于光学稀疏子孔径区域内标准正交多项式计算进行重构波前的方法
申请号 CN201710563807.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN107402074A 公开(授权)日 2017.11.28
申请(专利权)人 中国科学院光电技术研究所 发明(设计)人 罗倩;吴时彬;汪利华;杨伟;范斌
主分类号 G01J9/00(2006.01)I IPC主分类号 G01J9/00(2006.01)I;G06F17/17(2006.01)I;G06F19/00(2011.01)I
专利有效期 一种基于光学稀疏子孔径区域内标准正交多项式计算进行重构波前的方法 至一种基于光学稀疏子孔径区域内标准正交多项式计算进行重构波前的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种基于光学稀疏子孔径区域内标准正交多项式计算进行重构波前的方法。首先把第一个Zernike多项式作为稀疏子孔径区域内正交多项式的第一个,将第i个Zernike多项式去除其在稀疏子孔径区域内正交多项式的前i?1上的投影,得到的残差作为稀疏子孔径区域内正交多项式的第i个,并对其进行归一化处理直到得到N个稀疏子孔径区域内标准正交基,然后,利用N个稀疏子孔径区域内标准正交基对波前相位数据进行重构。本发明解决了圆Zernike在稀疏子孔径区域的非正交性问题。

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