专利详情

专利名称	一种基于ASIC验证的旁路验证系统及验证方法
申请号	CN201710464343.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107271882A	公开（授权）日	2017.10.20
申请（专利权）人	中国科学院上海高等研究院;上海市信息技术研究中心	发明（设计）人	王鹏;高鹏;吴涛
主分类号	G01R31/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/28(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I
专利有效期	一种基于ASIC验证的旁路验证系统及验证方法至一种基于ASIC验证的旁路验证系统及验证方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种基于ASIC验证的旁路验证系统及方法，包括：转接设计单元连接各单元，为各单元提供信号传输通路；激励逻辑设计单元通过转接设计单元与目标逻辑单元形成时钟通路；待测设计单元通过转接设计单元与激励逻辑设计单元形成测试激励源通路；待测设计单元通过转接设计单元与目标逻辑单元形成旁路数据通路；待测设计单元所需的测试激励源的协议与激励逻辑设计单元输出的测试激励源的协议一致。本发明在保留原有逻辑单元之间信息识别和加密认证的前提下，搭载激励源数据，通过旁路数据通路的方式对待测设计单元进行功能验证，简化了验证流程，提高了验证的效率，降低了实现成本。