专利详情

专利名称	一种基于多孔介质模型的细胞物理状态的表征方法
申请号	CN201710208656.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107045075A	公开（授权）日	2017.08.15
申请（专利权）人	国家纳米科学中心	发明（设计）人	任克礼;韩东
主分类号	G01Q60/24(2010.01)I	IPC主分类号	G01Q60/24(2010.01)I
专利有效期	一种基于多孔介质模型的细胞物理状态的表征方法至一种基于多孔介质模型的细胞物理状态的表征方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种基于多孔介质模型的细胞物理状态的表征方法。为了得到上述表征方法，首先需基于多孔介质模型获取细胞杨氏模量，其中，细胞杨氏模量的获取方法包括：S1.基于待测细胞表面的加载力?时间曲线，获取待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度；S2.基于待测细胞在时间为区域无穷大时的加载力与压入深度，利用赫兹模型计算得到待测细胞的杨氏模量。本发明提供的方法可以有效地解决利用传统方法根据赫兹模型测量杨氏模量以及细胞刚度所存在的不同压入深度与不同加载速率下测量得到的结果差异大的问题，并合理地解释传统方法测量出现差异的原因，且较准确地表征细胞介孔弹性性质以及细胞物理状态。