
一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法
- 申请号:CN201610083946.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
- 公开(公开)号:CN107044980A
- 公开(公开)日:2017.08.15
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法 | ||
申请号 | CN201610083946.8 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN107044980A | 公开(授权)日 | 2017.08.15 |
申请(专利权)人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明(设计)人 | 钱森;夏经铠;衡月昆;李楠 |
主分类号 | G01N21/84(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/84(2006.01)I |
专利有效期 | 一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法 至一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开一种大面积PMT的光耦合扫描测试装置和方法,装置主要用于对PMT的均匀性进行扫描测试,包括旋转平台以及光耦合装置;PMT可转动地安装于旋转平台上,旋转平台能驱动PMT旋转;光耦合装置包括一光源、多个导光件、一导光架及一驱动装置,各导光件的接收端通过光接头固定于导光架;驱动装置驱动导光架或光源移动,以带动光源可选择性光连接各导光件的接收端;各导光件的输出端安装有光接头,各输出端光接头顺PMT的表面间隔布置,输出端光接头顺一第一周面方向排布,PMT旋转中,PMT外表面顺一第二周面方向旋转,第一周面方向与第二周面方向相交;且多个导光件出光方向对齐PMT的表面法线。尤其适用于大面积的PMT的扫描测试。 |
交易流程
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