专利详情

专利名称	基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法
申请号	CN201710116968.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106886983A	公开（授权）日	2017.06.23
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	王德江;周达标;霍丽君;刘让;贾平
主分类号	G06T5/00(2006.01)I	IPC主分类号	G06T5/00(2006.01)I;G06T5/20(2006.01)I
专利有效期	基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法至基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种基于Laplace算子和反卷积的图像非均匀性校正方法，具体过程为：步骤一、针对待校正的F帧图像，利用Laplace算子对其进行卷积处理；步骤二、对卷积后F帧图像的同一像素点取中值，逐像素计算后得到中值矩阵；步骤三、基于所述中值矩阵，利用反卷积算法计算校正系数矩阵b；利用所述校正系数矩阵b对待校正图像进行校正。本发明基于相邻四个像素具有统计一致性的假设，对图像进行卷积、取中值最终计算出校正系数矩阵进行校正，该方法能够校正非均匀性噪声中的高频分量和低频分量，不需要预存基于定标法的校正系数，从而彻底解决探测器辐射响应随时间漂移的问题。