专利详情

专利名称	白光中子成像方法及采用其的材料组成无损检测方法
申请号	CN201611270697.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106855522A	公开（授权）日	2017.06.16
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	唐靖宇;谭志新
主分类号	G01N23/05(2006.01)I	IPC主分类号	G01N23/05(2006.01)I
专利有效期	白光中子成像方法及采用其的材料组成无损检测方法至白光中子成像方法及采用其的材料组成无损检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种白光中子成像方法，包括步骤：中子源发射脉冲中子束并记录发射时间；探测器探测脉冲中子束得到中子的位置和到达时间并传输到处理单元；处理单元根据中子的到达时间及记录的发射时间得到中子的能量信息，对中子按能量分组得到二维中子通量分布重复上述步骤，得到放置样品时的二维中子通量分布根据的值及能量分组信息生成具有中子能量信息的中子透射图像。另提出一种无损检测材料组成的方法，利用不同角度采集的位置信息重建三维空间信息并结合能量信息得到空间单元格点的透射信息，将此值与原子核数据库比对确定材料的组成。本发明在无损情况下可精确地确定材料的组成，测量的中子能量范围最宽可以覆盖从eV到百兆eV。