专利详情

专利名称	嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法
申请号	CN201510864079.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106815101A	公开（授权）日	2017.06.09
申请（专利权）人	中国科学院沈阳自动化研究所	发明（设计）人	于海斌;曾鹏;徐皑冬;闫炳均;宋岩;王志平;胡波;王锴;孙俊男
主分类号	G06F11/22(2006.01)I	IPC主分类号	G06F11/22(2006.01)I
专利有效期	嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法至嵌入式系统外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及嵌入式外部易失性存储器高可靠性存储与诊断方法。本发明首先将数据存储区域分为数据区域和数据备份区域，CPU将数据区域和数据备份区域分别按地址平均分为8部分，按顺序对数据区域部分进行诊断；在诊断的过程中，先将一部分数据区域数据拷贝到相应的备份区域中，再对数据区域进行数据诊断，诊断结束将备份区域数据拷贝回相应数据区域；本发明诊断程序运行在系统空闲时间，可以把主控制器从繁重的存储器的诊断程序中解放出来，和传统的诊断方法相比，主控制器运行开销比较小，主控制器利用率比较高。本发明能够方便实现程序运行空间的切换，不需要动态更改程序的运行空间，程序设计简单，减少了程序运行空间动态变换产生的故障。