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干涉仪光学系统

  • 申请号:CN201611133620.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 公开(公开)号:CN106767390A
  • 公开(公开)日:2017.05.31
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 干涉仪光学系统
申请号 CN201611133620.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106767390A 公开(授权)日 2017.05.31
申请(专利权)人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明(设计)人 王飞;史振广;田伟;隋永新
主分类号 G01B9/02(2006.01)I IPC主分类号 G01B9/02(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I
专利有效期 干涉仪光学系统 至干涉仪光学系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供的一种干涉仪光学系统,包括光源、聚光镜、滤光片、视场光阑、分光镜、准直镜、移相器、显微物镜、电荷耦合元件,所述光源发出的光线依次经过所述聚光镜、所述滤光片、所述视场光阑、所述分光镜、所述准直镜、所述移相器、进入所述显微物镜,经所述显微物镜的分光面分光后,一部分光线反射到所述显微物镜的参考反射面,经所述参考反射面反射返回,另一部分光线透过所述显微物镜的分光面到达被测面,经被测面反射返回,再次穿过所述分光面后与经所述参考反射面反射的光线重合,发生干涉并经所述分光镜反射后进入所述电荷耦合元件,产生干涉图样,本发明元件少,结构简单,易于保证镜筒机械加工精度,降低装调难度。

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