
干涉仪光学系统
- 申请号:CN201611133620.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN106767390A
- 公开(公开)日:2017.05.31
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 干涉仪光学系统 | ||
申请号 | CN201611133620.8 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106767390A | 公开(授权)日 | 2017.05.31 |
申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 王飞;史振广;田伟;隋永新 |
主分类号 | G01B9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B9/02(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I |
专利有效期 | 干涉仪光学系统 至干涉仪光学系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供的一种干涉仪光学系统,包括光源、聚光镜、滤光片、视场光阑、分光镜、准直镜、移相器、显微物镜、电荷耦合元件,所述光源发出的光线依次经过所述聚光镜、所述滤光片、所述视场光阑、所述分光镜、所述准直镜、所述移相器、进入所述显微物镜,经所述显微物镜的分光面分光后,一部分光线反射到所述显微物镜的参考反射面,经所述参考反射面反射返回,另一部分光线透过所述显微物镜的分光面到达被测面,经被测面反射返回,再次穿过所述分光面后与经所述参考反射面反射的光线重合,发生干涉并经所述分光镜反射后进入所述电荷耦合元件,产生干涉图样,本发明元件少,结构简单,易于保证镜筒机械加工精度,降低装调难度。 |
交易流程
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