专利详情

专利名称	一种超导约瑟夫森平面磁梯度计
申请号	CN201611188798.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106707203A	公开（授权）日	2017.05.24
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	伍岳;肖立业;侯世中
主分类号	G01R33/022(2006.01)I	IPC主分类号	G01R33/022(2006.01)I;G01R33/035(2006.01)I
专利有效期	一种超导约瑟夫森平面磁梯度计至一种超导约瑟夫森平面磁梯度计	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种超导约瑟夫森平面磁梯度计，包括下层超导层(1)、非超导介质层(2)及上层超导层(3)。所述的下层超导层(1)为闭合双环结构。组成闭合双环的两个环路形状及尺寸相同，闭合双环之间存在公共环路区域。非超导介质层(2)位于下层超导层(1)的公共环路区域上方，上层超导层(3)位于非超导介质层(2)上方。下层超导层(1)、非超导介质层(2)，及上层超导层(3)共同覆盖的区域构成一个约瑟夫森结。约瑟夫森结沿下层超导层公共环路区域的环路切线方向的长度(4)大于约瑟夫森结的穿透深度λ_J，且二者的比值大于2π。