专利详情

专利名称	一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法
申请号	CN201810108270.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN108444449A	公开（授权）日	2018.08.24
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学;西安中科光电精密工程有限公司	发明（设计）人	郝冲;王海;吴易明;朱帆
主分类号	G01C11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01C11/02(2006.01)I;G01C11/32(2006.01)I
专利有效期	一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法至一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种对具有平行线特征的目标空间姿态测量方法，现有测量方法都必须在直线上设置合作标志点、测量步骤繁复、测量仪器复杂、设备昂贵的问题。该方法包括：1)建立测量系统；2)线激光平面方程的标定；3)求取线激光照射到被测目标表面的直线的空间方向矢量；4)求取平行线特征的目标空间指向在相机坐标系中的表述；5)通过坐标系的旋转变换求解姿态角与方位角。本发明无需在目标上设置合作标志点，可直接利用被测目标物体表面所具有的平行直线特征，无需昂贵的三维坐标测量仪器，即可得到被测目标物体在空间中的三维姿态信息，测量系统架设方便、成本低、测量步骤简单。