
基于和频与调制转移光谱的1572nm稳频系统及方法
- 申请号:CN201710807325.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN107658690A
- 公开(公开)日:2018.02.02
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 基于和频与调制转移光谱的1572nm稳频系统及方法 | ||
申请号 | CN201710807325.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN107658690A | 公开(授权)日 | 2018.02.02 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 陈卫标;杜娟;陈迪俊;刘继桥;侯霞 |
主分类号 | H01S3/13(2006.01)I | IPC主分类号 | H01S3/13(2006.01)I |
专利有效期 | 基于和频与调制转移光谱的1572nm稳频系统及方法 至基于和频与调制转移光谱的1572nm稳频系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 基于和频与调制转移光谱的1572nm稳频系统装置,可应用于CO2气体浓度探测激光雷达中,包括1064nm激光器,1064nm分束器,532nm倍频晶体,532nm分束器,532nm电光相位调制器,532nm第一准直透镜,532nm偏振分光棱镜,第一碘池,532nm第一准直透镜,532nm聚焦镜,532nm光电探测器,第一混频器,第一信号发生器,第一电子伺服系统,1572nm激光器,1572nm分束器,波分复用器,634nm和频晶体,634nm分束器,634nm电光相位调制器,634nm第一准直透镜,634nm偏振分光棱镜,第二碘池,第二634nm准直透镜,634nm聚焦透镜,634nm光电探测器,第二混频器,第二信号发生器,第二电子伺服系统。本发明避免了直接利用CO2长吸收池的稳频装置,减小了体积,且碘分子精细吸收光谱比CO2分子吸收线窄,提高了频率的稳定性。 |
交易流程
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专利 -
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