专利详情

专利名称	一种利用嵌入式处理器数字端口测量电阻的方法及电路
申请号	CN201710686249.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN107656140A	公开（授权）日	2018.02.02
申请（专利权）人	中国科学院地质与地球物理研究所	发明（设计）人	杨永友;王自力;底青云;陈文轩;张文秀;孙云涛;郑健;洪林峰;谢棋军
主分类号	G01R27/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01R27/02(2006.01)I
专利有效期	一种利用嵌入式处理器数字端口测量电阻的方法及电路至一种利用嵌入式处理器数字端口测量电阻的方法及电路	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明一种利用嵌入式处理器数字端口测量电阻的方法及电路，具体步骤：先通过参考电阻R0给参考电容C1充放电，使用定时器分别测量充电和放电时间，进而求得充放电时间平均值T_R0；然后通过Rx给C1充放电，使用定时器分别测量充电和放电时间，进而求得充放电时间平均值T_Rx，根据参考电阻R0和计算得到的T_R0和T_Rx代入以下公式，求出测试电阻的阻值Rx,公式如下：Rx=R0*T_Rx/T_R0。该方法既测量给电容充电过程的时间常数，也测量电容放电过程的时间常数，从而降低极化效应，提高测量精度和可靠性。此外，还增加参考电阻，使得可以实时测量电容数值，降低因为电容参数不一致、老化导致数值变化等带来的误差。