一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法
- 申请号：CN201710720522.2
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN107607984A
- 公开(公开)日：2018.01.19
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法 | ||
| 申请号 | CN201710720522.2 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN107607984A | 公开（授权）日 | 2018.01.19 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘会亚;康宁;周申蕾;林尊琪 |
| 主分类号 | G01T1/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/36(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法 至一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开一种测量带电粒子能谱消减口径误差的磁谱仪的构建方法，包括设计探测器底拖的形状，构建磁谱仪。本发明结构简单紧凑，根据带电粒子束初级聚焦位置符合双曲线特点设计底拖，极大消减了注入孔引入的系统误差，另外粒子通过的有效区域多位置磁场中心，受边界效应影响小，测量精度显著提高，适用于推广应用。 | ||
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